Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Астрономія, №. 53, c. 29-32 (2016)

МІКРОЛІНЗУВАННЯ ПРОТЯЖНИМИ СТРУКТУРАМИ З СФЕРИЧНО-СИМЕТРИЧНИМ РОЗПОДІЛОМ МАСИ

В. І. Жданов, д-р фіз.-мат. наук, проф.,
О. М. Александров, канд. фіз.-мат. наук, ст. наук. співроб.,
О. С. Сташко, студ. фіз. ф-ту
Астрономiчна обсерваторiя Київського нацiонального унiверситету iменi Тараса Шевченка

Абстракт
Розглянуто мікролінзування точкового віддаленого джерела на одиночних протяжних структурах, що можуть представляти згустки темної матерії, з сферично-симетричним розподілом маси без особливості у центрі. Проведено аналітичний аналіз лінзового відображення, визначено області параметрів, що відповідають різній кількості зображень точкового джерела. Розраховано залежності коефіцієнту підсилення від часу (криві підсилення), що виникають при відносному русі джерела та мікролінзи. Показано, що для широкого діапазону параметрів криві підсилення протяжноїмікролінзи важко відрізнити від аналогічних кривих в стандартній моделі точковоїмікролінзи на сучасному
рівні фотометричноїточності.

Ключові слова
Мікролінзування протяжними структурами

Повний текст статті в pdf

DOI: https://doi.org/10.17721/BTSNUA.2016.53.29-32